自动绝对反射率测量系统
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
X荧光光谱仪EDX600
产品详细资料 仪器介绍 EDX600是集天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。 EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测
三单色仪
三单色仪-三级联光谱仪，由三台焦距为500mm的“谱王”光谱仪经过特殊调校后组合而成，前两级谱仪作色散相减配置，主要作用是降低杂散光，后一级谱仪作色散相加配置，主要作用是提高分辨率。